Technology

產(chǎn)品技術(shù)

AOI裝備

       NEI-AOI 是國(guó)創(chuàng)科開(kāi)發(fā)的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)和異物分層仲裁功能檢測(cè)裝備。在傳統(tǒng) AOI 檢測(cè)異物、氣泡、亮點(diǎn)、暗點(diǎn)、亮線、暗線、無(wú)顯、異顯、GDS 、Mura 等基礎(chǔ)上，搭載異物復(fù)核工位。利用小視野分層定位成像原理，對(duì)像素層圖像進(jìn)行缺陷層級(jí)分類處理，區(qū)分異物、壞點(diǎn)、灰層等缺陷類別。


電話：027-63495836
郵箱：sales@whnite.com
技術(shù)參數(shù) 裝備技術(shù)優(yōu)勢(shì) 更多產(chǎn)品

技術(shù)參數(shù)

  • ●基板尺寸：OLED\ LCD全尺寸面板
  • ●缺陷檢測(cè)尺寸：對(duì)應(yīng)一個(gè)子像素的圖像可見(jiàn)缺陷檢測(cè)分類
  • ●過(guò)漏檢指標(biāo)：漏檢≤0.1%;過(guò)檢≤5%
  • ●可應(yīng)對(duì)產(chǎn)品分辨率：4K及以上
  • ●復(fù)核分層功能：區(qū)分產(chǎn)品像素層/Panel/POL/CG等層不良
  • ●自動(dòng)化功能：自動(dòng)WD ( 工作距離 ) 、自動(dòng)對(duì)焦 、自動(dòng)曝光 、畫面質(zhì)量分析
  • ●異形檢測(cè)：支持多種異形panel同時(shí)測(cè)試

產(chǎn)品應(yīng)用

  • 異物分層展示圖

  • 異物分層展示圖1

  • 異物分層展示圖2

  • 異物分層展示圖4